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T06棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡
測(cè)試卡介紹
棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡用于檢查攝像機(jī)的幾何失真及分辨率
測(cè)試卡類似于一個(gè)由13×18的黑色和白色正方形區(qū)域以及由矩形區(qū)域在對(duì)應(yīng)于電子測(cè)試生成器14/19網(wǎng)格光柵線邊緣所包圍的棋盤(pán)。（整個(gè)圖卡發(fā)生器的水平網(wǎng)格線被劃分為相應(yīng)于42行）。
棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡使用
·檢查幾何形狀和光柵的一致性，如果有必要用電子生成網(wǎng)格的裝置。
·檢查信號(hào)生成的均勻性。
T06棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡參數(shù):
型號(hào)
T06
尺寸
280×210mm
類型
反射式/透射式可選
比例
4:3
京公網(wǎng)安備 11011502003124號(hào)
